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一种二极管测试系统及方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-718-2420-2719
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种二极管测试系统及方法,包括一次测试通道、中转输送通道和二次测试通道,在一次测试通道的首端设有具有推送杆的第一推送机构,在一次测试通道内还设有一次检测工位和第一检测单元,在一次检测工位处设有一次零件落口,在该一次零件落口内配合设有具有零件挡板的第二推送机构;在二次测试通道的首端设有具有推送杆的第三推送机构,在二次测试通道内还设有二次检测工位和第二检测单元,在二次检测工位处设有二次零件落口,在该二次零件落口内配合设有具有零件挡板的第四推送机构,在二次零件落口下方设有分选通道,以将合格品和不合格品分流收集。与传统的手动测试相比,本发明极大的提高了测试效率和准确性,降低了劳动强度。
附件下载:  (原始资料备查)

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