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一种电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯镁基氧化物中痕量元素的方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-639-5659-5104
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01N21/73;G01N1/28类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯镁基氧化物中痕量元素的方法,试样先经过预处理,然后加入铝、钙、钾、钠、硼、铁、锰、镉、铅、硫的多元素标准混合溶液或单元素硅的标准溶液,加入盐酸、进行稀释,最后用电感耦合等离子体原子发射光谱仪对系列标准溶液进行测定。利用铝、钙、钾、钠、硼、铁、锰、镉、铅、硫、硅元素在电感耦合等离子中发射光谱的普遍规律,模拟高纯系列镁基氧化物基体,进行共存元素与背景发射光谱研究、测定介质、分析谱线筛选、基体与含杂元素谱线间的相互干扰消除试验和条件优化,建立最佳的样品测定条件;以标准加入法为技术手段,实现了高纯系列镁基氧化物样品中痕量杂质元素的测定。
附件下载:  (原始资料备查)

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