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一种光谱测量装置【异议或纠错】

档案编号: CQ-688-0620-4945
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01J3/28;G02B1/10;G02B5/20类
授权状态: 已授权
档案内容: 本实用新型公开了一种光谱测量装置,包括入射狭缝、色散元件和成像元件等光学元件,在光学元件表面镀有光谱选择性薄膜,光谱选择性薄膜的选择波段与光谱测量装置的测量波段相对应,镀有光谱选择性薄膜的光学元件仅能出射薄膜选择波段内的光线,而大幅衰减光路中其他波长的光线,从而大幅降低光学系统的杂散光水平。
附件下载:  (原始资料备查)

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