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一种显示光场辐射测量方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-062-0703-7283
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G09G3/00;G02B5/20;G01J3/28;G01J3/02;G01J3/50;G01J3/51;G01J1/42;G01M11/02类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明提供一种显示光场辐射测量方法,实现待测显示屏高光谱信息的测量,具体包括:S1:控制待测显示屏显示第一组画面,利用所述光谱测量装置获得所述待测显示屏A区域在对应画面下的光谱功率分布;S2:根据步骤S1所获得的A区域的光谱功率分布,选择特定的两个或以上滤光片;S3:控制待测显示屏显示第二组画面,将步骤S2中选定的滤光片依次切入光路中,待测显示屏B区域的光经成像镜头和所述滤光片被面阵传感器接收;S4:根据步骤S3中面阵传感器的像素响应值以及步骤S1中待测显示屏A区域的光谱功率分布,计算所述待测显示屏在显示第二组画面时B区域中各位置点的光谱功率分布。
附件下载:  (原始资料备查)

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