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一种GPP芯片制造的光刻工艺【异议或纠错】

档案编号: CQ-736-7400-0111
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第H01L21/027;G03F7/26类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开一种GPP芯片制造的光刻工艺,包括如下步骤:(1)涂胶:在清洁干燥的硅片基材表面涂布不含二甲苯溶剂的负性光刻胶;(2)前烘,以去除胶膜中的溶剂;(3)曝光;(4)显影:采用碱性水溶液进行恒温显影;(5)定影:采用去离子水对基材进行冲洗;(6)后烘:去除残存溶剂,使胶膜固化致密;(7)腐蚀:以酸混合液腐蚀基材;(8)去胶。重复光刻工艺以制作复杂图形。本发明工艺避免了使用含有毒有害二甲苯的环化橡胶系负性光刻胶,以碱性水溶液和去离子水取代了有害的易挥发有机显影液和定影液,使光刻工艺过程变的安全健康环保。
附件下载:  (原始资料备查)

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