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一种光束测量装置【异议或纠错】

档案编号: CQ-870-9426-9193
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01J1/42;G01J3/28;G01J11/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本实用新型公开了一种光束测量装置,包括待测光源;第一成像组件,所述第一成像组件为面阵探测器,且直接接收待测光源的一定出射角度内的光线;活动支架,活动支架相对待测光源设置,所述第一成像组件设置于所述活动支架上,其中,所述第一成像组件在所述活动支架的控制下在二维平面内进行移动。本实用新型公开一种光束测量装置,通过直接接收待测光源一定出射角度内的光线,不仅可对光源的光线结构、均匀性、光强分布进行测量,还可以对待测光源中各出射角度内的光线的光强和出射角度进行测量,同时也避免了现有技术中使用匀光膜而导致光线投射到匀光膜时形成光斑边界向外扩散,而导致测量结果受影响的问题,具有显著的有益效果。
附件下载:  (原始资料备查)

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