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一种用于X射线衍射仪在低温下测量样品特性的检测装置【异议或纠错】

档案编号: CQ-006-7567-9997
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01N23/20033;G01N23/207类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开一种用于X射线衍射仪在低温下测量样品特性的检测装置,包括控温加热片、低温样品架、绝缘隔热套、液氮输送管。控温加热片为铁镍合金材质且两端固定。低温样品架上镶嵌有温度传感器并紧贴控温加热片。绝缘隔热套紧靠低温样品架并由密封圈密封。液氮输送管装在绝缘隔热套上,为内、中、外三层结构。内层为液氮输入管,中间层为液氮输出管,外层为隔热保温管。冷却套为两个半圆形结构,中间有冷却通道。本发明采用液氮输送管输送液氮到控温加热片上来实现给样品降温的目的,并通过低温样品架与控温加热片之间的温度传感器反馈温度到控制软件来调节并控制样品温度,使样品温度始终稳定在设定温度。
附件下载:  (原始资料备查)

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