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一种光合辐射照度测量方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-056-5936-2655
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01J3/30;G01J1/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种光合辐射照度计及其测量方法,照度计包括一个光谱仪,一个宽波段辐射探头,二者都与微电子处理单元电连接,宽波段辐射探头的光谱灵敏度与某一光辐射系统的响应曲线相匹配。光谱仪和宽波段辐射探头同时测量被测光,使用光谱修正系数校正宽波段辐射探头的测量值,大幅降低由探头的光谱失匹配带来的误差;根据光合辐射照度和光谱可计算出被测光的绝对光谱功率,可进一步通过计算得到其它系统下的光合辐射照度量值。本发明的光合辐射照度计对光谱仪和宽波段辐射探头的精度要求不高,易于实现,且使用方便,能够同时实现多个系统下的光合辐射照度测量,测量精度较高。
附件下载:  (原始资料备查)

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